落射光引发的荧光法（incident-loght fluorescence Epi-FL） 简称为落射荧光法，是近代同轴显微镜检术中新开展出来的一种强有力的反差增强法。它将引发荧光用的光源改在物镜的上方，光由物镜上方经反光镜射入物镜去引发样品，从样品上被引发的荧光经物镜成像并穿透反光镜而由目镜调查。该技巧较轻便，服从高，50W的光源强度比透射荧光法的250W还强。

  荧光技巧是行使波长较短的紫外光、紫光、蓝紫光、蓝光及绿光等去引发样品，只要样品中含有可发生荧光的成分，它便吸收短波的引发光而开释出波长较长的荧光。差别物资只能吸改特定波长的引发光，而开释的荧光也会有特定的波长，于是用作特异性的判定十分有效，如某些致病的细菌和螺旋体，受紫外光引发后能发出它们特有的荧光，非常容易作出判定，这种行使物资吸收引发光后放出特有荧光的技巧称为自觉荧光法。某些物资本身不会吸收引发光，或吸收后不可以开释荧光，但可以吸收或吸附特定的荧光色素或染料，而这些特定的荧光色素或染料也只能吸收特定的引发光，再开释出特定的荧光，从而间接地判别出某种物资，这称为间接荧光法。上述荧光技巧宽泛使用于医学、生物学及工业的特异性研究和判别上。调解技巧：荧鲜明微镜或附有荧光部件的同轴显微镜，调解的技巧大抵相像。

  微分干涉相衬法（differential interference-contrast，DIC） 为了降服相差法调查时样品细节像四周随同有光晕，会掩没掉原来应该瞥见的细节，以及样品或构造切片厚度要求相当薄，准则高低能厚于10?m等范围性，行使双光束干涉的道理计划子微分干涉相衬法。